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数据通信COC测试机
PSS COC3T19201
PSS COCT2000支持COC器件（支持DFB/EML/Tunable）常温和高温下的LIV综合测试和光谱测试。与我司COC老化系统配套使用，顺利获得老化前后测试对比，筛选出不良产品。本机具有高集成度、高效率、高稳定性的特点。
用于COC封装的DFB和EML的激光器芯片测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。
数据通信TO三温测试机
PSS LDTO3T8002
PSS TO三温测试系统支持TO工业级低温、常温、高温测试，温度控制范围为-40℃～85℃，适用于VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自动测试，支持器件任意引脚封装测试，支持LIV特性测试以及光谱测试。系统一次支持两块夹具进行测试，每块夹具可装载128颗TO，提高测试产量，系统具有温控快，温度均匀性好，稳定可靠，测试效率高的特点。
用于DFB或EML TO的工业级三温测试，支持LIV、光谱等光电特性测试。
数据通信TO46盘测机
PSS PAT-46-I(E)
为了提高光器件的可靠性，光器件在TO封装前会经过性能测试，避免不良器件流入下一个生产环节而带来人力、物力损失。武汉qy·球友会(中国)TO-46自动测试系统主要用来自动测试64颗器件的击穿电压、暗电流、工作电流、响应度、D+/D-等性能特性，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。
用于APDTIA或PINTIA TO测试，支持击穿电压、响应度、暗电流等光电特性测试。
数据通信TO56/EML TO盘测机
PSS PAT5606
PSS TO56自动盘测系统，适用于VCSEL/FP/DFB/DML/EML/SOA-EML-TOCAN的自动测试，采用一块测试板测试64颗4PIN/5PIN FP/DFB TO或32颗7PIN/8PIN DML/EML TO，支持任意引脚封装测试，支持高温测试、TEC温控、LIV特性测试以及光谱测试。该系统和我司老化箱配套使用，提高工厂生产、测试效率，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。
用于DFB或EML TO测试，支持LIV、光谱等光电特性测试。
激光雷达VCSEL COB测试机
PSS PLST1602
qy·球友会(中国)窄脉冲集成式可靠性系统与性能测试系统用于激光雷达10ns窄脉冲可靠性与激光雷达SMD封装器件的性能测试。可靠性系统的每个老化板可独独立设定老化电流电压参数，老化箱带自锁功能，防止老化过程中误操作，老化板实时温度检测，支持本地Access保存或SQL服务器保存数据。
用于激光雷达VCSEL COB窄脉冲测试，支持LIV、光谱、NF、FF相关参数的测试
激光雷达TO测试机
PSS PLST401
qy·球友会(中国)窄脉冲TO测工装针对激光雷达高功率脉冲型封装器件的测试。体积小，集成度高。适合于研发等小批量测试验证环境。
用于激光雷达VCSEL TO窄脉冲测试，支持LIV、光谱、NF、FF相关参数的测试
可见光TO盘测机
PSS PAT902-RGB
qy·球友会(中国)可见光TO自动盘测机，能实现TO56自动LIV综合测试、光谱测试，支持TO56任意引脚封装测试，采用一块测试板测试64颗TO56，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。该系统和我司集成式老化箱配套形成一套完整的可见光TO可靠性实验解决方案、老化板可兼容分拣设备使用，提高工厂生产、测试效率。
用于可见光TO9的盘测，夹具与老化老化兼容，支持LIV、光谱等光电特性测试。
可见光TO自动上下料测试机
PSS TTP3302
TOCAN自动化测试系统主要应用于TO的LIV、光谱、发散角自动测试，支持任意引脚封装的TO56/TO9，设备支持TO自动上料、自动下料，可兼容客户使用的上下料载具，测试工作台支持温度控制，可实现TO在设定温度下测试；系统全自动运行，稳定高效，方便客户批量测试。 与大功率TO抽屉老化系统配套使用，是一套完整的大功率TO可靠性实验方案，TOCAN测试系统支持老化前后测试和对比，数据存储与分析。
用于可见光TO9或是TO56测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试，自动上下料。
数据通信单工位Bar 条测试
PSS BAR-HT2101
qy·球友会(中国)EML BAR条自动测试机用于LD巴条LIV曲线，光谱，背光自动测量,EA加电测试,SOA加电测试。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。
数据通信类Bar单工位测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。
数据通信双工位Bar 条测试
PSS BAR-HT2201
qy·球友会(中国)双工位常高温BAR条自动测试机(PSS BAR-HT2201)用于DFB/EML等类型巴条常高温测试，可支持LIV、光谱、发散角、偏振等光电特性测试。全自动上下料，非黏性料盒上料，Disco蓝膜环下料。双测试系统双载台，温度可由用户自定：20~90℃。向用户开放测量数据，用于后续筛分工序。数据通信双工位Bar 条测试机，功能齐全，兼容性强。
数据通信类Bar双工位测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。
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