qy·球友会(中国)

+
  • 1(1745311504302).png
  • 2(1745311504682).png
  • 3(1745311504683).png

可见光 Bar 条测试

所属分类：

可见光BAR条自动测试机用于巴条LIV曲线，光谱，远场自动测量。全自动上下料，支持料盒上料，支持料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试，测试温度可由用户自定。探针加电，测试NG chip采取打点标记，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

  • 产品详情
  • 特点
  • 规格
  • 下载
    • 商品名称: 可见光 Bar 条测试
    • 型号: PSS BART-HP
    • 描述: 可见光类Bar单工位测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。

    可见光BAR条自动测试机用于巴条LIV曲线，光谱，远场自动测量。全自动上下料，支持料盒上料，支持料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试，测试温度可由用户自定。探针加电，测试NG chip采取打点标记，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

    应用

    设备用于可见光BAR条自动测试，可以实现常温、高温条件下边发射芯片的光谱、LIV参数测试

     

    特点

    1、支持多种主流规格料盒，全自动上下料，避免转料或人工操作对巴条chip造成的报废；


    2、上下料料盒配磁吸式夹具，支持快速更换不同规格料盒或蓝膜盘；
    3、支持BAR条自动上料、首颗chip识别定位，支持ID识别、自动测试、自动判断BAR条测试结束、自动下料；


    4、吸嘴、探针与BAR条接触压力可调；
    5、支持单探针、双探针、多探针加电的形态；


    6、支持前光LIV曲线、功率、光谱测量，背光功率测量，多参数多条件筛分，尽可能筛选出不良chip，避免流入后道工序；
    7、支持MAP图绘制，方便用户对wafer的性能分布情况分析；


    8、支持NG Chip打点标记，支持简单的芯片外观检查；
    9、支持常温、高温测试，常温台支持温控；
    10、多维度可调测量结构，满足用户对不同规格巴条测量需求；

     

    规格

     

     

     

     

     

     

PSS规格书联系方式

下载

关键词：