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    可见光 Chip测试

    所属分类：

    本设备应用于可见光CHIP常温PIV测试、光谱测试并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片蓝膜上料，自动寻料、识别定位，顺利获得蓝膜顶针剥离芯片、吸嘴吸取、机械手完成搬运，视觉识别并校准位置、自动加电收集发光参数、测试PIV/光谱、分析筛选、机械手搬运分档到不同蓝膜档位。 此设备具有高速、高精度特点，实现了复杂时序、严密逻辑的工艺过程。设备采用了直线电机、高精度模组运动、凸轮等组织，配合多轴运动、视觉定位、ORC识别等技术，具有批量生产能力。

    • 产品详情
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      • 商品名称: 可见光 Chip测试
      • 型号: PSS CHIP12806-P
      • 描述: 可见光类Chip单工位测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。

      本设备应用于可见光CHIP常温PIV测试、光谱测试并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片蓝膜上料，自动寻料、识别定位，顺利获得蓝膜顶针剥离芯片、吸嘴吸取、机械手完成搬运，视觉识别并校准位置、自动加电收集发光参数、测试PIV/光谱、分析筛选、机械手搬运分档到不同蓝膜档位。 此设备具有高速、高精度特点，实现了复杂时序、严密逻辑的工艺过程。设备采用了直线电机、高精度模组运动、凸轮等组织，配合多轴运动、视觉定位、ORC识别等技术，具有批量生产能力。

      应用

      设备用于可见光裸chip自动测试分bin，可以实现常温、高温条件下边发射芯片的光谱、LIV参数测试

       

      特点

      1、支持Chip的LIV、光谱相关参数的测试、绘制测试曲线；


      2、芯片蓝膜自动上料，顺利获得视觉系统自动识别芯片ID,测试台支持芯片在相机下自动二次定位，精准控制探针加电测试；


      3、探针自动下压加电，探针下压力度可调，支持探针力度实时显示；
      4、下料配置8个蓝膜盘、4个2寸GelPak盒；


      5、拾取搬运组织（上料吸嘴、下料吸嘴组成，搬运轴采用高精度直线电机控制），稳定性好，运动精度高；


      6、可实现小功率测试和大功率测试：小功率测试系统（风冷+TEC控温；1寸积分球收光，测PIV、光谱），（预留）大功率测试系统（水冷+TEC控温；3寸积分球收光，测PIV、光谱）；

       

      规格

       

       

    PSS规格书联系方式

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