qy·球友会(中国)

+
  • 晶圆测试机2.png
  • 正面.png
  • 晶圆测试机.png

数据通信VCSEL晶圆测试

所属分类：

qy·球友会(中国)光通信VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。兼容多种不同尺寸的Wafer，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

  • 产品详情
  • 特点
  • 规格
  • 下载
    • 商品名称: 数据通信VCSEL晶圆测试
    • 型号: PSS WT-8502
    • 描述: 850nm VCSEL的Wafer测试，支持LIV、光谱相关参数的测试

    qy·球友会(中国)光通信VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。兼容多种不同尺寸的Wafer，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

    应用

    1、光通信等应用的VCSEL芯片测试；
    2、小功率面发射芯片的验证测试；

     

    特点

    1、集成自制LIV综合测试仪，小电流挡位精度高，支持LIV测试；


    2、积分球同步收光，支持 LIV 测试和光谱测试；


    3、探针臂，针压可调，最小调到1g，压力稳定性在±0.1g以内，探针安装带限位功能；


    4、支持晶圆位置识别和自动调整；
    5、测试载台采用高导热材料，TEC温控，温度范围可支持25~85°C；
    6、支持快速光谱测试；
    7、软件支持精确定位图、坐标数据生成，数据库自动存储数据及图片；

     

    规格

  • 产品特点

    • 集成自制LIV综合测试仪，小电流挡位精度高，支持LIV测试

     


    • 积分球同步收光，支持 LIV 测试和光谱测试

     


    • 探针臂，针压可调，最小调到1g，压力稳定性在±0.1g以内，探针安装带限位功能

     


    • 支持晶圆位置识别和自动调整
    • 测试载台采用高导热材料，TEC温控，温度范围可支持25~85°C
    • 支持快速光谱测试

    • 软件支持精确定位图、坐标数据生成，数据库自动存储数据及图片

     

  • 参 数

    指 标

    适合Wafer尺寸

    2寸、4寸和6寸

    芯片加电方式

    支持同面和异面类型的VCSEL加电

    电流范围

    范围0-500mA

    电流输出和测量精度

    0~20mA：0.1%FS±0.1mA

    0~100mA：0.1%FS±0.1mA

    0~250mA：0.1%FS±0.25mA

    0~500mA：0.1%FS±0.5mA

    电流加电方式

    支持陆续在电流扫描，和脉冲加电：脉宽200us~650ms，周期2ms~6s，同步输出触发信号

    前光功率

    范围0-500mW，精度0.1%FS±50uW

    正向电压

    范围0-5V，精度0.5%±50mV

    波长范围

    800-1700 nm，其他波长支持定制

    测试台温控范围

    25～85℃，稳定性<±1℃

    设备尺寸

    不含信号灯及显示器，1250mm(深)×1100mm(宽)×1750mm(高)

    气源要求

    正压：无

    负压：≦-80KPa

PSS规格书联系方式

关键词：